Articles

Fehér fény interferométerek

Még több beszállítói adatot talál a cikk végén, vagy látogasson el a

Nincs még a listán? Legyen meg a bejegyzés!

A fehérfény-interferométer, amelyet pl. az alacsony koherencia-interferometriával összefüggésben használnak, olyan interferométer, jellemzően Michelson-interferométer, amely fehér fényforrással, azaz széles optikai sávszélességű fényforrással működik, a fényforrás nem feltétlenül a látható spektrális tartományban működik, valóban fehér fényt generál.Az időbeli koherenciájának meglehetősen kicsinek kell lennie, míg általában nagy térbeli koherenciára van szükség. a széles sávszélességgel kombinált nagy térbeli koherencia a legegyszerűbben úgy érhető el, hogy a fényt egy izzóból egymódusú szálba indítjuk, de ez nagyon kis indított teljesítményhez vezet.A ragyogás (fényerő) több nagyságrenddel növelhető szuperlumineszcens forrás, például szuperlumineszcens dióda alkalmazásával. egyes esetekben hullámhosszon áthangolható lézereket használnak.

A fehérfény-interferométerben a detektor lehet fotodetektor, amely integrálja a különböző hullámhosszúságú hozzájárulásokat, és a jelet az időtartományban rögzíti, vagy spektrométer (spektrális fázisinterferometria).

signal from white light interferometer
1. ábra: Szimulált jel, amint azt egy fehérfény-interferométerrel végzett z letapogatás során kapjuk. A nulla optikai úthosszkülönbség z = 2,6 μm-nél jelentkezik.

A fehérfény-interferometria alkalmazása

A fehérfény-interferometriát különböző célokra használják, a legfontosabb alkalmazások:

  • Az orvosi képalkotás az optikai koherencia-tomográfia technikájával lehetséges, amely lényegében a fehérfény-interferometrián alapul, legalábbis eredeti formájában.
  • A kromatikus diszperzió mérése: Itt a diszperzív optikai elemet az egyik interferométerkarban helyezik el, és a detektor jelét figyelik, miközben a relatív karhosszúságot bizonyos tartományon keresztül pásztázzák.Nulla karhossz-különbség körül interferometrikus hullámzás lép fel, míg nagy karhossz-különbség esetén a jel nagyjából állandó. erős diszperzió esetén a rögzített interferogram szélesebbé válik. a rögzített interferogramra Fourier-transzformációs algoritmust alkalmazva kinyerhető a vizsgált eszköz komplex reflexiós vagy transzmissziós együtthatója, és numerikus differenciálással feltárható a hullámhosszfüggő csoportkésleltetés és a kromatikus diszperzió.
  • Távolságok mérése.a keskeny vonalszélességű lézerforrásokon alapuló interferométerekhez képest elkerülhetők a tipikus többértelműségi problémák.speciális eset a felületi profilok mérése.például egy Michelson-interferométert lehet használni, amelynek detektora egy CCD-kamera.itt is különböző karhosszkülönbségek esetén rögzülnek a képek.minden egyes pixel az adott keresztirányú helyen lévő nulla karhosszkülönbségű pont körüli interferometrikus imbolygásokat jeleníti meg.A keskeny sávú interferométerek helyzetétől eltérően nincs szükség fázisbontási eljárásra, így még az érdes felületek is könnyen kezelhetők.
  • Hasonlóképpen detektálhatók a fotonikus integrált áramkörön belüli reflexiók.

Szállítók

Az RP Photonics vásárlói útmutatóban 8 szállítót találunk fehérfény-interferométerekhez. Közülük:

Kérdések és megjegyzések a felhasználóktól

Miért működik a fehér fény interferometria, ha a felhasznált fény polarizációs állapota véletlenszerű? Mivel a hagyományos interferométerekben a két kar polarizációs állapotának meg kell egyeznie, itt miért nem szükséges ez a szempont?

A szerző válasza:

Az ilyen interferométerekben általában polarizált fényt használnak.Azonban polarizálatlan fény esetén is lehet valamilyen interferométeres jelet elérni – mint számos más típusú interferométerben is, csak lehet, hogy kevésbé tiszta lesz a jel.

Itt lehet kérdéseket és hozzászólásokat beküldeni. Amennyiben a szerző elfogadja őket, a szerző válaszával együtt megjelennek e bekezdés felett. Az elfogadásról a szerző dönt bizonyos kritériumok alapján. Alapvetően a kérdésnek kellően széleskörű érdeklődésre kell számot tartania.

Kérem, ne írjon ide személyes adatokat, különben hamarosan törölnénk azokat. (Lásd még adatvédelmi nyilatkozatunkat.) Ha személyes visszajelzést vagy tanácsadást szeretne kapni a szerzőtől, kérjük, vegye fel vele a kapcsolatot pl. e-mailben.

Az adatok megadásával hozzájárulását adja ahhoz, hogy a beadványait a szabályzatunknak megfelelően esetleg közzétegyük honlapunkon. (Ha később visszavonja hozzájárulását, ezeket a beadványokat törölni fogjuk.) Mivel a beadványait először a szerző ellenőrzi, azok némi késéssel kerülhetnek publikálásra.

Bibliográfia

K. Naganuma et al., “Group-delay measurement using the Fourier transform of an interferometric cross correlation generated by white light”, Opt. Lett. 15 (7), 393 (1990), doi:10.1364/OL.15.000393
M. Beck és I. A. Walmsley, “Measurement of group delay with high temporal and spectral resolution”, Opt. Lett. 15 (9), 492 (1990), doi:10.1364/OL.15.000492
A. P. Kovacs et al., “Group-delay measurement on laser mirror by spectrally resolved white-light interferometry”, Opt. Lett. 20 (7), 788 (1995), doi:10.1364/OL.20.000788
S. Diddams és J.-C. Diels, “Dispersion measurements with white-light interferometry”, J. Opt. Soc. Am. B 13 (6), 1120 (1996), doi:10.1364/JOSAB.13.001120
C. Dorrer et al., “Experimental implementation of Fourier-transform spectral interferometry and its application to the study of spectrometers”, Appl. Phys. B 70, S99 (2000), doi:10.1007/s003400000333
Q. Ye et al., “Dispersion measurement of tapered air-silica microstructure fiber by white-light interferometry”, Appl. Opt. 41 (22), 4467 (2002), doi:10.1364/AO.41.004467
A. Gosteva et al., “Noise-related resolution limit of dispersion measurements with white-light interferometers”, J. Opt. Soc. Am. B 22 (9), 1868 (2005), doi:10.1364/JOSAB.22.001868
T. V. Amotchkina et al., “Measurement of group delay of dispersive mirrors with white-light interferometer”, Appl. Opt. 48 (5), 949 (2009), doi:10.1364/AO.48.000949

(Javasoljon további irodalmat!)

Lásd még: interferométerek, koherencia, optikai koherencia tomográfia, kromatikus diszperzió, fehér fényforrások, The Photonics Spotlight 2008-02-22
és más cikkek a fotonikai eszközök, optikai metrológia kategóriákban

preview

Ha tetszik ez az oldal, kérjük, ossza meg a linket barátaival és kollégáival, e.pl. a közösségi médián keresztül:

TwitterFacebookLinkedIn

Ezek a megosztó gombok adatvédelem-barát módon vannak megvalósítva!